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X射線衍射法無(wú)法有效檢測(cè)單晶體殘余應(yīng)力，主要受限于其基本原理和單晶體結(jié)構(gòu)特性：

多晶體衍射原理的限制‌
X射線衍射法基于布拉格方程（2dsinθ=nλ），依賴多晶體材料中大量隨機(jī)取向的晶粒產(chǎn)生衍射峰。通過(guò)測(cè)量不同ψ角（衍射矢量與試樣法線的夾角）的晶面間距變化，計(jì)算宏觀殘余應(yīng)力。單晶體作為單一晶粒，缺乏多晶體的統(tǒng)計(jì)效應(yīng)，無(wú)法通過(guò)ψ角旋轉(zhuǎn)獲取足夠的衍射信息。

單晶體結(jié)構(gòu)導(dǎo)致衍射信息缺失‌

單一取向問(wèn)題‌：?jiǎn)尉w所有原子排列高度有序，僅特定晶面能在固定角度滿足衍射條件。旋轉(zhuǎn)ψ角時(shí)，多數(shù)位置無(wú)衍射信號(hào)，無(wú)法建立完整的d−sin2ψ 關(guān)系曲線（應(yīng)力計(jì)算的核心依據(jù)）。
無(wú)晶粒統(tǒng)計(jì)效應(yīng)‌：多晶體中微小晶粒的隨機(jī)取向確保了任意ψ角均有部分晶粒滿足衍射。單晶體不具備此特性，導(dǎo)致衍射數(shù)據(jù)不完備。

織構(gòu)干擾的極端化影響‌
多晶材料若存在強(qiáng)織構(gòu)（各ψ角衍射強(qiáng)度差異>3倍），已可能影響測(cè)試精度。單晶體作為織構(gòu)的極端形式（完全單一取向），其衍射強(qiáng)度僅存在于特定角度，完全無(wú)法滿足各向同性假設(shè)。

晶粒尺寸與相干散射要求‌
標(biāo)準(zhǔn)X射線殘余應(yīng)力檢測(cè)要求晶粒尺寸為10–100 µm，以確保衍射信號(hào)的穩(wěn)定性和重現(xiàn)性。單晶體尺寸通常遠(yuǎn)超此范圍，且缺乏多晶體的相干散射多樣性，無(wú)法滿足檢測(cè)所需的光斑一致性條件（如移動(dòng)光斑后衍射峰形需穩(wěn)定）。

補(bǔ)充說(shuō)明：X射線法適用的應(yīng)力類型

X射線衍射法僅對(duì)‌第I類宏觀殘余應(yīng)力‌敏感（引起晶面間距均勻變化，導(dǎo)致衍射峰位移）。單晶體中存在的第II/III類微觀應(yīng)力（如晶格缺陷導(dǎo)致的局部畸變）雖會(huì)引起峰寬化或強(qiáng)度變化，但此類應(yīng)力無(wú)法通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)宏觀應(yīng)力檢測(cè)方法量化，需依賴其他技術(shù)進(jìn)行分析。